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第1篇2023年單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式 第2篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告通用格式 第3篇2023年單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告 第4篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告樣文 第5篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告范本 第6篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告 第7篇2023單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式 第8篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告范例 第9篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告的格式 第10篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式 第11篇單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式范文 第12篇精選單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告 第13篇最新單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告 第14篇2023年最新單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
篇一 2023年單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇二 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告通用格式
在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇三 2023年單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇四 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告樣文
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇五 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告范本
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇六 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇七 2023單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇八 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告范例
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇九 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告的格式
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇十 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的.方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
[單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式]
篇十一 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式范文
在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇十二 精選單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇十三 最新單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告
在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲,最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇十四 2023年最新單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試:
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路:畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟:
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析,理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表,分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖,包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的,即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法,如單步、斷點(diǎn)等命令,分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序,按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果,找出程序中可能出錯(cuò)的地方,然后修改程序,繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析,直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。